Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия: учебное пособие

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Суржиков А. П. Анатолий Петрович
Müşterek Yazar: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
Diğer Yazarlar: Притулов А. М. Александр Михайлович, Васендина Е. А. Елена Александровна
Özet:В пособии рассмотрены источники рентгеновского излучения, взаимодей­ствие рентгеновского излучения с веществом, основы дифракционного экспери­мента. Включает разделы: элементы кристаллографии; количественный рентгено-фазовый анализ; прецизионное определение параметров решетки; дифракционный анализ как метод технологического контроля. Пособие является удобным сред­ством для самостоятельного и более глубокого изучения вопросов методики ди-фрактометрических исследований при качественном и количественном анализе фа­зового состава вещества, уточнении параметров элементарной ячейки.Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200100 «Приборостроение», а также может быть полезно студентам, использующим в своей работе методику рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа.
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: Томск, Изд-во ТПУ, 2014
Konular:
Materyal Türü: MixedMaterials Kitap
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=146686

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 146686
005 20240131153537.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\159009 
090 |a 146686 
100 |a 20081101d2014 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 000zy 
200 1 |a Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия  |e учебное пособие  |f А. П. Суржиков, А. М. Притулов, Е. А. Васендина  |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) 
210 |a Томск  |c Изд-во ТПУ  |d 2014 
215 |a 86 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 83. 
330 |a В пособии рассмотрены источники рентгеновского излучения, взаимодей­ствие рентгеновского излучения с веществом, основы дифракционного экспери­мента. Включает разделы: элементы кристаллографии; количественный рентгено-фазовый анализ; прецизионное определение параметров решетки; дифракционный анализ как метод технологического контроля. Пособие является удобным сред­ством для самостоятельного и более глубокого изучения вопросов методики ди-фрактометрических исследований при качественном и количественном анализе фа­зового состава вещества, уточнении параметров элементарной ячейки.Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200100 «Приборостроение», а также может быть полезно студентам, использующим в своей работе методику рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа. 
606 1 |a Неразрушающий контроль  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\66931  |9 82903 
606 1 |a Дифрактометрия рентгеновская  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\9673  |9 36859 
610 1 |a рентгеновские методы 
610 1 |a рентгеновские методы 
610 1 |a рентгеновское излучение 
610 1 |a взаимодействие с веществом 
610 1 |a физические механизмы 
610 1 |a кристаллография 
610 1 |a рентгеновские лучи 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a рентгенофазовый анализ 
610 1 |a качественный анализ 
610 1 |a дифрактометры 
610 1 |a учебные пособия 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
675 |a 620.179.1(075.8)  |v 3 
675 |a 621.386.8(075.8)  |v 3 
700 1 |a Суржиков  |b А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1951-  |g Анатолий Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\22010  |9 9307 
701 1 |a Притулов  |b А. М.  |c специалист в области электротехники  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета  |f 1947-  |g Александр Михайлович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28169 
701 1 |a Васендина  |b Е. А.  |c специалист в области электротехники  |c доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук  |f 1975-  |g Елена Александровна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28171  |9 13129 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |c (2009- )  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\15902 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20081101  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20151106  |g PSBO 
942 |c BK