| Summary: | В пособии рассмотрены источники рентгеновского излучения, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, основы дифракционного эксперимента. Включает разделы: элементы кристаллографии; количественный рентгено-фазовый анализ; прецизионное определение параметров решетки; дифракционный анализ как метод технологического контроля. Пособие является удобным средством для самостоятельного и более глубокого изучения вопросов методики ди-фрактометрических исследований при качественном и количественном анализе фазового состава вещества, уточнении параметров элементарной ячейки.Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 200100 «Приборостроение», а также может быть полезно студентам, использующим в своей работе методику рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа. |
|---|
