Термофлуктуационная теория разрушения диэлектриков

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Дмитревский (Дмитриевский) В. С. Виктор Сергеевич
Korporativní autor: Томский политехнический университет (ТПУ)
Shrnutí:Дается вывод функций распределения вероятностей прочности диэлектриков. Показано, что зависимость прочности диэлектриков от толщины и площади электродов объясняется наличием в них неоднородностей. Приведен вывод времени до разрыва связи при воздействии на диэлектрик электрического поля и механических напряжений. Показано, что уравнение Аррениуса представляет собой вероятность разрыва связи в единицу времени. Дана методика определения времени до отказа изоляции при эксплуатационных условиях заданной вероятности безотказной работы. Показана роль частичных разрядов в отказе электрической изоляции. На основе термофлуктуационной теории рассмотрен пробой диэлектриков. Показано, что разделение пробоя на тепловой и электрический является необоснованным. Изложена теория развития пробоя. Для специалистов в области техники и электрофизики высоких напряжений и физики диэлектриков, а также для широкого круга научных работников, аспирантов и студентов вузов энергетических специальностей.
Vydáno: Томск, Изд-во ТПУ, 2008
Témata:
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=142017

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 142017
005 20231031142619.0
010 |a 5982982180 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\153916 
090 |a 142017 
100 |a 20080829d2008 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Термофлуктуационная теория разрушения диэлектриков  |f В. С. Дмитревский (Дмитриевский)  |g Томский политехнический университет (ТПУ) 
210 |a Томск  |c Изд-во ТПУ  |d 2008 
215 |a 170 с.  |c ил. 
320 |a Библиография в конце глав. 
330 |a Дается вывод функций распределения вероятностей прочности диэлектриков. Показано, что зависимость прочности диэлектриков от толщины и площади электродов объясняется наличием в них неоднородностей. Приведен вывод времени до разрыва связи при воздействии на диэлектрик электрического поля и механических напряжений. Показано, что уравнение Аррениуса представляет собой вероятность разрыва связи в единицу времени. Дана методика определения времени до отказа изоляции при эксплуатационных условиях заданной вероятности безотказной работы. Показана роль частичных разрядов в отказе электрической изоляции. На основе термофлуктуационной теории рассмотрен пробой диэлектриков. Показано, что разделение пробоя на тепловой и электрический является необоснованным. Изложена теория развития пробоя. Для специалистов в области техники и электрофизики высоких напряжений и физики диэлектриков, а также для широкого круга научных работников, аспирантов и студентов вузов энергетических специальностей. 
610 1 |a электроэнергетика 
610 1 |a диэлектрики 
610 1 |a термофлуктуационная теория 
610 1 |a электрическая изоляция 
610 1 |a надежность 
610 1 |a твердая изоляция 
610 1 |a частичные разряды 
610 1 |a пробой 
675 |a 621.315.61:53  |v 3 
700 1 |a Дмитревский (Дмитриевский)  |b В. С.  |c специалист в области электротехники  |c доцент Томского политехнического института, кандидат технических наук  |f 1927-  |g Виктор Сергеевич  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\12388 
712 0 2 |a Томский политехнический университет (ТПУ)  |c (1991- )  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\376 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20080829  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191209  |g PSBO 
942 |c BK