| Sumari: | Дается вывод функций распределения вероятностей прочности диэлектриков. Показано, что зависимость прочности диэлектриков от толщины и площади электродов объясняется наличием в них неоднородностей. Приведен вывод времени до разрыва связи при воздействии на диэлектрик электрического поля и механических напряжений. Показано, что уравнение Аррениуса представляет собой вероятность разрыва связи в единицу времени. Дана методика определения времени до отказа изоляции при эксплуатационных условиях заданной вероятности безотказной работы. Показана роль частичных разрядов в отказе электрической изоляции. На основе термофлуктуационной теории рассмотрен пробой диэлектриков. Показано, что разделение пробоя на тепловой и электрический является необоснованным. Изложена теория развития пробоя. Для специалистов в области техники и электрофизики высоких напряжений и физики диэлектриков, а также для широкого круга научных работников, аспирантов и студентов вузов энергетических специальностей. |
|---|
