Радиационная стойкость СВЧ приборов на основе арсенида галлия
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| סיכום: | В монографии обобщены и систематизированы результаты исследований стойкости полупроводниковых приборов на основе арсенида галлия при облучении нейтронами, гамма-квантами, протонами и электронами различных энергий, а также при комбинированном (последовательном) облучении нейронами, протонами и электронами. Рассмотрено влияние технологических факторов на радиационную стойкость приборов, показана роль омических контактов в обеспечении радиационной стойкости диодов Ганна. Представлен механизм деградации диодов Ганна при облучении, позволяющий объяснить комплекс изменений параметров диодов. Книга предназначена для специалистов в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов, разработки и изготовлении изделий и устройств электронной техники, а также студентов соответствующих специальностей. |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
Томск, Изд-во ТПУ, 2005
|
| נושאים: | |
| פורמט: | ספר |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=126174 |
| תיאור פיזי: | 277 с. ил. |
|---|---|
| סיכום: | В монографии обобщены и систематизированы результаты исследований стойкости полупроводниковых приборов на основе арсенида галлия при облучении нейтронами, гамма-квантами, протонами и электронами различных энергий, а также при комбинированном (последовательном) облучении нейронами, протонами и электронами. Рассмотрено влияние технологических факторов на радиационную стойкость приборов, показана роль омических контактов в обеспечении радиационной стойкости диодов Ганна. Представлен механизм деградации диодов Ганна при облучении, позволяющий объяснить комплекс изменений параметров диодов. Книга предназначена для специалистов в области физики полупроводников и полупроводниковых приборов, разработки и изготовлении изделий и устройств электронной техники, а также студентов соответствующих специальностей. |