• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Лазерные методы исследований д...
  • Citar
  • Enviar por SMS
  • Enviar por email
  • Imprimir
  • Exportar registo
    • Exportar para RefWorks
    • Exportar para EndNoteWeb
    • Exportar para EndNote
  • Permanent link
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках [сборник научных трудов]

Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках, [сборник научных трудов]

Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: Академия наук СССР (АН СССР) Институт общей физики им. А. М. Прохорова (ИОФ)
Outros Autores: Маненков А. А. (340)
Idioma:russo
Publicado em: Москва, Наука, 1986
Colecção:Труды Института общей физики (ИОФАН) Т. 4
Assuntos:
лазерные методы
исследование
дефекты
полупроводники
диэлектрики
Formato: Livro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=124058
  • Exemplares
  • Descrição
  • Registos relacionados
  • Registo fonte

Registos relacionados

  • Нестационарные процессы в полупроводниках и диэлектриках сборник научных трудов
    Publicado em: (Москва, Энергоатомиздат, 1986)
  • Кинетические явления в полупроводниках и диэлектриках сборник научных трудов
    Publicado em: (Москва, Энергоатомиздат, 1985)
  • Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках
    Por: Дмитрук Н. Л. Николай Леонтьевич
    Publicado em: (Киев, Наукова думка, 1989)
  • Поверхностные явления в полупроводниках и диэлектриках
    Por: Киселев В. Ф. Всеволод Федорович
    Publicado em: (Москва, Наука, 1970)
  • Обнаружение локальных дефектов в диэлектриках радиоволновым методом
    Por: Семенов В. С.
    Publicado em: (2002)