Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности; Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение

Podrobná bibliografie
Parent link:	Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение.— 2006.— С. 229-233
Další autoři:	Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, Макеев А. А. Анатолий Анатольевич, Беляев С. А.
Jazyk:	ruština
Vydáno:	2006
Témata:	кристаллиты микронапряжения керамика дисперсность микроискажения рентгеновские линии дифракционные линии труды учёных ТПУ
Médium:	Kapitola
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=122978

Popis
Žádný popis.

Podobné jednotky