APA ציטוט

Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, . . . Беляев С. А. (2006). Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности; Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. 2006.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, Макеев А. А. Анатолий Анатольевич, and Беляев С. А. Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности; Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. 2006, 2006.

ציטוט MLA

Андриец С. П., et al. Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности; Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение. 2006, 2006.