| Summary: | В монографии рассматриваются вопросы долговечности интегральных схем в целом и элементов их конструкции при воздействии различных дестабилизирующих факторов, вопросы прогнозирования долговечности ИС по ускоренным испытаниям, по катастрофическим и параметрическим отказам, а также вопросы индивидуального прогнозирования долговечности схем по изменению их электро-физических параметров. Книга предназначена специалистам электронной и радиоэлектронной промышленности, студентам старших курсов и аспирантам вузов соответствующих специальностей. |
|---|
