Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
| מחבר ראשי: | Батаев В. А. Владимир Андреевич |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Батаев А. А. Анатолий Андреевич, Алхимов А. П. Анатолий Павлович |
| סיכום: | Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении). |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006
|
| סדרה: | Учебники НГТУ |
| נושאים: | |
| פורמט: | ספר |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=113545 |
פריטים דומים
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
מאת: Батаев В. А. Владимир Андреевич
יצא לאור: (Москва, Флинта, 2008)
מאת: Батаев В. А. Владимир Андреевич
יצא לאור: (Москва, Флинта, 2008)
Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
מאת: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
יצא לאור: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)
מאת: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
יצא לאור: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)
Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
יצא לאור: (1984)
יצא לאור: (1984)
Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004)
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004)
Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
יצא לאור: (1984)
יצא לאור: (1984)
Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
יצא לאור: (Москва, Научный мир, 2011)
יצא לאור: (Москва, Научный мир, 2011)
Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
מאת: Ищенко А. А.
יצא לאור: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
מאת: Ищенко А. А.
יצא לאור: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.
מאת: Энгель Л.
יצא לאור: (Москва, Металлургия, 1986)
מאת: Энгель Л.
יצא לאור: (Москва, Металлургия, 1986)
Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
מאת: Набиуллин И. Р.
יצא לאור: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)
מאת: Набиуллин И. Р.
יצא לאור: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)
Сверхтвердые материалы: рентгенографические, электронно-микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов: практикум
מאת: Полушин Н. И.
יצא לאור: (Москва, МИСИС, 2014)
מאת: Полушин Н. И.
יצא לאור: (Москва, МИСИС, 2014)
Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
מאת: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
יצא לאור: (Москва, Юрайт, 2019)
מאת: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
יצא לאור: (Москва, Юрайт, 2019)
Вып. 2; Приборы и методы физического металловедения
יצא לאור: (1974)
יצא לאור: (1974)
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
מאת: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
יצא לאור: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
מאת: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
יצא לאור: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2009)
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2009)
Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
Методы исследования материалов
מאת: Газенаур Е. Г.
יצא לאור: (Кемерово, КемГУ, 2013)
מאת: Газенаур Е. Г.
יצא לאור: (Кемерово, КемГУ, 2013)
Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов учебное пособие
מאת: Виноградова С. С.
יצא לאור: (Казань, КНИТУ, 2014)
מאת: Виноградова С. С.
יצא לאור: (Казань, КНИТУ, 2014)
Features of the Ti-40Nb Alloy Prototype Formation by 3D Additive Method; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
יצא לאור: (2016)
יצא לאור: (2016)
Введение в нанотехнологию
מאת: Марголин В. И.
יצא לאור: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)
מאת: Марголин В. И.
יצא לאור: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)
Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02): электронный курс
מאת: Панин А. В. Алексей Викторович
יצא לאור: (Томск, TPU Moodle, 2024)
מאת: Панин А. В. Алексей Викторович
יצא לאור: (Томск, TPU Moodle, 2024)
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
מאת: Брандон Д.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2004)
מאת: Брандон Д.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2004)
Surface Layer Modification of 12Cr1MoV and 30CrMnSiNi2 Steels by Zr+ Ion Beam to Improve the Fatigue Durability; Procedia Technology; Vol. 19 : 8th International Conference Interdisciplinarity in Engineering, INTER-ENG 2014, 9-10 October 2014, Tirgu Mures, Romania
יצא לאור: (2015)
יצא לאור: (2015)
Микроскопические методы исследования материалов
מאת: Кларк Э. Р.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2007)
מאת: Кларк Э. Р.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2007)
Структура и фазовый состав суперсплава на основе Ni-Al-Cr, легированного Re и La; Перспективы развития фундаментальных наук
מאת: Никоненко Е. Л. Елена Леонидовна
יצא לאור: (2015)
מאת: Никоненко Е. Л. Елена Леонидовна
יצא לאור: (2015)
Введение в растровую электронную микроскопию
מאת: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
יצא לאור: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)
מאת: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
יצא לאור: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)
Mechanical Strength of Additive Manufactured Carbon Fiber Reinforced Polyetheretherketone; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
יצא לאור: (2016)
יצא לאור: (2016)
Мезомеханика поведения тонких пленок Cu на подложке при одноосном растяжении и термическом отжиге. Многоуровневый подход; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 4
יצא לאור: (2005)
יצא לאור: (2005)
Laws of Plastic Deformation Localization of Aluminum Monocrystals at Different Scale Structural Levels; AIP Conference Proceedings; Vol. 1783 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures 2016
יצא לאור: (2016)
יצא לאור: (2016)
Plastic strain arrangement in copper single crystals in sliding; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
מאת: Chumaevsky A. V. Andrey Valerjevich
יצא לאור: (2014)
מאת: Chumaevsky A. V. Andrey Valerjevich
יצא לאור: (2014)
Структурные методы исследования: учебное пособие
מאת: Беликов А. М. Алексей Митрофанович
יצא לאור: (Воронеж, ВПИ, 1977)
מאת: Беликов А. М. Алексей Митрофанович
יצא לאור: (Воронеж, ВПИ, 1977)
Аналитические методы исследования реакторных материалов учебное пособие для вузов
מאת: Приходько К. Е.
יצא לאור: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2012)
מאת: Приходько К. Е.
יצא לאור: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2012)
Распределение продуктов деления в облученном виброуплотненном оксидном топливе; Атомная энергия; Т. 99, вып. 5
יצא לאור: (2005)
יצא לאור: (2005)
Биодеградируемые изделия на основе фиброина шелка для тканевой инженерии и регенеративной медицины
מאת: Агапова О. И.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2018)
מאת: Агапова О. И.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2018)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
מאת: Рид С. Дж. Б.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2008)
מאת: Рид С. Дж. Б.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2008)
Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
Влияние электропластической деформации на структуру и свойства низколегированной стали 09Г2С; Современные технологии и материалы новых поколений
מאת: Хисаметдинов Н. А.
יצא לאור: (2017)
מאת: Хисаметдинов Н. А.
יצא לאור: (2017)
Электронная микроскопия в минералогии: пер. с англ.
יצא לאור: (Москва, Мир, 1979)
יצא לאור: (Москва, Мир, 1979)
Новейшие методы исследования биосистем: пер. с англ.
מאת: Нолтинг Б.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2005)
מאת: Нолтинг Б.
יצא לאור: (Москва, Техносфера, 2005)
Т. 3: Электронные пучки в диагностике твердого тела; Пучки заряженных частиц и твердое тело
יצא לאור: (1990)
יצא לאור: (1990)
Определение глинистых минералов методами сканирующей электронной микроскопии и рентгеноструктурного микроанализа; Проблемы геологии и освоения недр; Т. 1
מאת: Данг Т. Ф. Т.
יצא לאור: (2016)
מאת: Данг Т. Ф. Т.
יצא לאור: (2016)
פריטים דומים
-
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
מאת: Батаев В. А. Владимир Андреевич
יצא לאור: (Москва, Флинта, 2008) -
Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
מאת: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
יצא לאור: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014) -
Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
יצא לאור: (1984) -
Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
מאת: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
יצא לאור: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004) -
Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
יצא לאור: (1984)