Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей, учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Other Authors: Батаев А. А. Анатолий Андреевич, Алхимов А. П. Анатолий Павлович
Summary:Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении).
Published: Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006
Series:Учебники НГТУ
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=113545