Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей, учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Other Authors: Батаев А. А. Анатолий Андреевич, Алхимов А. П. Анатолий Павлович
Summary:Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении).
Language:Russian
Published: Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006
Series:Учебники НГТУ
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=113545

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 113545
005 20231101215131.0
010 |a 5778206984 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\122804 
090 |a 113545 
100 |a 20070412d2006 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
200 1 |a Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей  |e учебное пособие  |f В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов 
210 |a Новосибирск  |c Изд-во НГТУ  |d 2006 
215 |a 220 с.  |c ил. 
225 1 |a Учебники НГТУ 
320 |a Библиография в конце глав. 
330 |a Рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки специалистов 551600 Материаловедение и технология материалов и покрытий (специальность 120800 Материаловедение в машиностроении). 
451 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\book\140648  |y 978-5-9765-0207-9  |t Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей  |o учебное пособие  |f В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов  |e 2-е изд.  |c М.  |n Флинта  |n Наука  |d 2008  |p 220 с.  |a Батаев, Владимир Андреевич 
451 |y 978-5-02-034811-0 
606 1 |a Материалы  |x Структурный анализ  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\41301  |9 61105 
610 1 |a испытание 
610 1 |a металлические материалы 
610 1 |a кристаллическое строение 
610 1 |a дефекты 
610 1 |a оптическая металлография 
610 1 |a трансмиссионная электронная микроскопия 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a сканирующая зондовая микроскопия 
610 1 |a качество 
610 1 |a контроль 
610 1 |a рентгеновский метод 
610 1 |a рентгеноспектральный микроанализ 
610 1 |a атомный спектральный анализ 
610 1 |a акустический контроль 
610 1 |a радиационный контроль 
610 1 |a учебные пособия 
675 |a 620.18(075.8)  |v 3 
700 1 |a Батаев  |b В. А.  |g Владимир Андреевич 
701 1 |a Батаев  |b А. А.  |g Анатолий Андреевич 
701 1 |a Алхимов  |b А. П.  |g Анатолий Павлович 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070412  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20211220  |g PSBO 
900 |a Методы структурного анализа материалов и контроля качества изделий 
900 |a Акустический контроль 
900 |a Магнитный, электрический, вихретоковый контроль 
900 |a Приборы и системы контроля качества 
900 |a Физические методы контроля 
942 |c BK 
951 |b 150600  |b 150601  |b 150501