• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Розширений
  • Рентгеноспектральный микроанал...
  • Цитувати
  • Відправити по sms
  • Відправити е-поштою
  • Друк
  • Експортувати запис
    • Екпортувати в RefWorks
    • Екпортувати в EndNoteWeb
    • Екпортувати в EndNote
  • Постійне посилання
Експорт завершений — 
Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов

Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов

Бібліографічні деталі
Автор: Гимельфарб Ф. А. Феликс Аронович
Мова:Російська
Опубліковано: Москва, Металлургия, 1986
Предмети:
рентгеноспектральный микроанализ
слоистые материалы
количественный микроанализ
локальный анализ
способы измерений
обработка информации
автоматизация
компьютеризация
микрозондовый контроль
полупроводниковые гетероструктуры
интегральные схемы
поверхностные слои
металлы
защитные покрытия
ионнолегированные материалы
слоистые композиты
металлургия
металловедение
микроэлектроника
аналитическая химия
новая техника
современные материалы
гетерогенный фон
тонкие слои
слоисто-неоднородные среды
некомпозиционные материалы
Формат: Книга
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=112436
  • Примірники
  • Опис
  • Схожі ресурси
  • Службовий вигляд

Схожі ресурси

  • Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов
    Опубліковано: (Новосибирск, Наука, 2000)
  • Рентгеноспектральный микроанализ ксенона в облученном топливе тепловых реакторов; Атомная энергия; Т. 100, вып. 2
    Опубліковано: (2006)
  • Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
    Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2009)
  • Рентгено-спектральный электроннозондовый микроанализ
    за авторством: Батырев В. А. Вадим Алексеевич
    Опубліковано: (Москва, Металлургия, 1982)
  • Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
    за авторством: Васичев Б. Н. Борис Никитович
    Опубліковано: (Москва, Металлургия, 1977)