• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Advanced
  • Рентгеноспектральный микроанал...
  • Cite this
  • Text this
  • Email this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов

Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов

Bibliographic Details
Main Author: Гимельфарб Ф. А. Феликс Аронович
Language:Russian
Published: Москва, Металлургия, 1986
Subjects:
рентгеноспектральный микроанализ
слоистые материалы
количественный микроанализ
локальный анализ
способы измерений
обработка информации
автоматизация
компьютеризация
микрозондовый контроль
полупроводниковые гетероструктуры
интегральные схемы
поверхностные слои
металлы
защитные покрытия
ионнолегированные материалы
слоистые композиты
металлургия
металловедение
микроэлектроника
аналитическая химия
новая техника
современные материалы
гетерогенный фон
тонкие слои
слоисто-неоднородные среды
некомпозиционные материалы
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=112436
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Similar Items

  • Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов
    Published: (Новосибирск, Наука, 2000)
  • Рентгеноспектральный микроанализ ксенона в облученном топливе тепловых реакторов; Атомная энергия; Т. 100, вып. 2
    Published: (2006)
  • Рентгеновский микроанализ с электронным зондом в минералогии: материалы IX съезда ММА, 4-10 сентября 1978 г., г. Новосибирск
    Published: (Новосибирск, Наука, 1980)
  • Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
    Published: (Москва, Техносфера, 2009)
  • Рентгено-спектральный электроннозондовый микроанализ
    by: Батырев В. А. Вадим Алексеевич
    Published: (Москва, Металлургия, 1982)