MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 112436
005 20231031121443.0
020 |a RU  |b 86-33909 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\121565 
090 |a 112436 
100 |a 20070328d1986 m a0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Рентгеноспектральный микроанализ слоистых материалов  |f Ф. А. Гимельфарб 
210 |a Москва  |c Металлургия  |d 1986 
215 |a 152 с.  |c ил. 
320 |a Библиографический список: с. 149-152. 
610 1 |a рентгеноспектральный микроанализ 
610 1 |a слоистые материалы 
610 1 |a количественный микроанализ 
610 1 |a локальный анализ 
610 1 |a способы измерений 
610 1 |a обработка информации 
610 1 |a автоматизация 
610 1 |a компьютеризация 
610 1 |a микрозондовый контроль 
610 1 |a полупроводниковые гетероструктуры 
610 1 |a интегральные схемы 
610 1 |a поверхностные слои 
610 1 |a металлы 
610 1 |a защитные покрытия 
610 1 |a ионнолегированные материалы 
610 1 |a слоистые композиты 
610 1 |a металлургия 
610 1 |a металловедение 
610 1 |a микроэлектроника 
610 1 |a аналитическая химия 
610 1 |a новая техника 
610 1 |a современные материалы 
610 1 |a гетерогенный фон 
610 1 |a тонкие слои 
610 1 |a слоисто-неоднородные среды 
610 1 |a некомпозиционные материалы 
675 |a 620.22-419.8:54  |v 3 
700 1 |a Гимельфарб  |b Ф. А.  |g Феликс Аронович 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950704  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070328  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200901  |g PSBO 
942 |c BK