Вып. I; Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях

Bibliographic Details
Parent link:Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях: материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества промышленной продукции/ В. В. Ведерников [и др.]; Политехнический музей ; под ред. Б. Е. Бердичевского. Вып. 1.— , 1977
Language:Russian
Published: 1977
Subjects:
Format: Book
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=112295

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 112295
005 20231031121417.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\121401 
090 |a 112295 
100 |a 20070326d1977 km y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 0 |a Вып. I 
210 |d 1977 
215 |a 52 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 50-51. 
461 |t Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях  |o материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества промышленной продукции  |f В. В. Ведерников [и др.]  |g Политехнический музей ; под ред. Б. Е. Бердичевского  |v Вып. 1  |d 1977 
610 1 |a полупроводниковые приборы 
610 1 |a конструкции 
610 1 |a конструктивные элементы 
610 1 |a механическое моделирование 
610 1 |a резонансные частоты 
610 1 |a расчет 
610 1 |a механические нагрузки 
610 1 |a напряжение 
610 1 |a отказы 
610 1 |a надежность 
610 1 |a прогнозирование 
610 1 |a летательные аппараты 
610 1 |a радиооборудование 
675 |a 629.735:621.3  |v 3 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20070326  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20080401  |g PSBO 
942 |c BK