Вып. I

Bibliographic Details
Parent link:	Причины , механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях: материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества промышленной продукции/ В. В. Ведерников [и др.]; Политехнический музей ; под ред. Б. Е. Бердичевского. Вып. 1.— , 1977
Published:	1977
Subjects:	полупроводниковые приборы конструкции конструктивные элементы механическое моделирование резонансные частоты расчет механические нагрузки напряжение отказы надежность прогнозирование летательные аппараты радиооборудование
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=112295

Similar Items