• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Методы измерения параметров по...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Методы измерения параметров полупроводниковых приборов: пер. с англ.

Методы измерения параметров полупроводниковых приборов: пер. с англ.

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Иглицын М. И. (редактор)
Idioma:rus
Publicat: Москва, Оборонгиз, 1961
Matèries:
Полупроводниковые приборы > Параметры > Измерение
полупроводниковые приборы
параметры
измерение
электронные приборы
полупроводниковые триоды
надежность
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=109655
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Ítems similars

  • Испытание и исследование полупроводниковых приборов: учебное пособие для вузов
    per: Аронов В. Л. Вадим Львович
    Publicat: (Москва, Высшая школа, 1975)
  • Электронные измерения и измерение параметров полупроводниковых приборов: учебник
    per: Криштафович А. К. Алексей Константинович
    Publicat: (Москва, Высшая школа, 1969)
  • Полупроводниковые приборы, измерения параметров, испытания: [монография]
    per: Благовещенский В. С. Владимир Сергеевич
    Publicat: (Чита, Изд-во ЧитГУ, 2008)
  • Вып. 5; Полупроводниковые приборы и их применение
    Publicat: (1960)
  • Расчет и проектирование полупроводниковых приборов: пер. с англ.
    Publicat: (Москва, Оборонгиз, 1963)