Булычев А. А., Шишигина Е. В., & Рябцева М. А. Мария Александровна. (2003). Установка для измерения и обработки электрических параметров ионно-модифицированных слоёв диэлектриков и тонких плёнок; Университетская научно-практическая отчетная конференция студентов и молодых ученых; 14-16 мая 2003, г. Томск. 2003.
Chicago Style (17th ed.) CitationБулычев А. А., Шишигина Е. В., and Рябцева М. А. Мария Александровна. Установка для измерения и обработки электрических параметров ионно-модифицированных слоёв диэлектриков и тонких плёнок; Университетская научно-практическая отчетная конференция студентов и молодых ученых; 14-16 мая 2003, г. Томск. 2003, 2003.
MLA (9th ed.) CitationБулычев А. А., et al. Установка для измерения и обработки электрических параметров ионно-модифицированных слоёв диэлектриков и тонких плёнок; Университетская научно-практическая отчетная конференция студентов и молодых ученых; 14-16 мая 2003, г. Томск. 2003, 2003.