Výsledky vyhledávání

Doporučená témata ve výsledcích tohoto hledání:
Upřesnit hledání
  1. 1
    Применение плазматрона в спектроскопии материалы Всесоюзного симпозиума (г. Фрунзе, 24-27 июня 1968 г.)

    Применение плазматрона в спектроскопии материалы Всесоюзного симпозиума (г. Фрунзе, 24-27 июня 1968 г.)

    Vydáno Фрунзе, Илим, 1970
    Kniha
  2. 2
    Учебное пособие по общей химии и физико-химическим методам анализа

    Учебное пособие по общей химии и физико-химическим методам анализа

    Vydáno Ленинград, Изд-во Ленинградской лесотехнической академии, 1965
    Kniha
  3. 3
    Ч. 1

    Ч. 1

    Vydáno 1987
    Kniha
  4. 4
    Вып. 5

    Вып. 5

    Vydáno 1986
    Kniha
  5. 5
    Аналитическая геохимия пер. с англ.

    Аналитическая геохимия пер. с англ. Autor Энерглин У.

    Vydáno Ленинград, Недра, 1975
    Kniha
  6. 6
    Т. 2

    Т. 2

    Vydáno 1985
    Kniha
  7. 7
    Т. 1

    Т. 1

    Vydáno 1994
    Kniha
  8. 8
    Т. 2

    Т. 2

    Vydáno Москва, Изд-во МИФИ, 1994
    Kniha
  9. 9
    Т. 3

    Т. 3

    Vydáno Москва, Изд-во МИФИ, 1994
    Kniha
  10. 10
    Физические методы исследования прозрачных неоднородностей конспекты докладов

    Физические методы исследования прозрачных неоднородностей конспекты докладов

    Vydáno Москва, Изд-во МДНТП, 1984
    Kniha
  11. 11
    Эмиссионная спектроскопия аэрозолей в металлургии

    Эмиссионная спектроскопия аэрозолей в металлургии Autor Гусарский В. В. Владимир Васильевич

    Vydáno Москва, Металлургия, 1974
    Kniha
  12. 12
    Рентгеновская эмиссионная спектроскопия металлов и сплавов

    Рентгеновская эмиссионная спектроскопия металлов и сплавов Autor Немошкаленко В. В. Владимир Владимирович

    Vydáno Киев, Наукова думка, 1972
    Kniha
  13. 13
    Лабораторный практикум по физико-химическим методам анализа учебное пособие для вузов

    Лабораторный практикум по физико-химическим методам анализа учебное пособие для вузов

    Vydáno Ярославль, Изд-во ЯрПИ, 1980
    Kniha
  14. 14
    Trace Analysis of Semiconductor Materials

    Trace Analysis of Semiconductor Materials

    Vydáno Oxford, Pergamon Press, 1964
    Kniha
  15. 15
    Applied atomic spectroscopy

    Applied atomic spectroscopy

    Vydáno London, Plenum Press, 1978
    Kniha
  16. 16
    Образование наноуглеродных пленочных материалов в газоразрядной плазме

    Образование наноуглеродных пленочных материалов в газоразрядной плазме

    Vydáno 2003
    Kapitola
  17. 17
    Рентгеновские спектры

    Рентгеновские спектры Autor Мазалов Л. Н. Лев Николаевич

    Vydáno Новосибирск, ИНХ СО РАН, 2003
    Kniha
  18. 18
    Determination of magnetron plasma parameters by optical emission spectroscopy and argon collisional-radiative model

    Determination of magnetron plasma parameters by optical emission spectroscopy and argon collisional-radiative model

    Vydáno 2016
    Získat plný text
    Elektronický zdroj Kapitola
  19. 19
    The influence of plasma parameters on the electron temperature and density

    The influence of plasma parameters on the electron temperature and density

    Vydáno 2016
    Získat plný text
    Elektronický zdroj Kapitola
  20. 20
    Использование моделирования и планирования эксперимента для создания методик спектрального анализа геологических объектов

    Использование моделирования и планирования эксперимента для создания методик спектрального анализа геологических объектов... Autor Бабенков Д. Е.

    Vydáno 2017
    Získat plný text
    Elektronický zdroj Kapitola

Vyhledávací nástroje: