نتائج البحث
الموضوعات المستخلصة من بحثك.
الموضوعات المستخلصة من بحثك.
- толщина
- труды учёных ТПУ 128
- электронный ресурс 103
- покрытия 29
- контроль 23
- измерение 19
- стенки 19
- расчет 17
- диссертации 15
- измерения 14
- температура 14
- трубы 13
- материалы 12
- неразрушающий контроль 12
- толщиномеры 12
- применение 11
- авторефераты диссертаций 10
- исследование 10
- расчеты 10
- слои 10
- параметры 9
- пленки 9
- скорость 9
- ледяной покров 8
- методы 8
- определение 8
- ультразвуковой контроль 8
- учебные пособия 8
- защитные покрытия 7
- лед 7
-
1
-
2
Автоматический контроль размеров и положения прокатываемого металла
منشور في Москва, Металлургия, 1980كتاب -
3
Микропроцессорный измеритель толщины гальванического покрытия меди на стали Х18Н10Т
منشور في 2003فصل الكتاب -
4
-
5
-
6
Разработка методов расчета аккумуляторов автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук спец. 05.17.03...
منشور في Днепропетровск, [Б. и.], 1973كتاب -
7
-
8
-
9
-
10
Ультразвуковой контроль и регулирование технологических процессов
منشور في Москва, Теплотехник, 2008كتاب -
11
-
12
-
13
-
14
Государственная поверочная схема для средств измерений толщины особо тонких покрытий в диапазоне 2-1000 нм Рекомендация. МИ 1950-88...
منشور في Москва, Изд-во стандартов, 1989كتاب -
15
-
16
Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм Государственная система обеспечения единства измерений. Рекомендации по метрол...
منشور في Москва, Госстандарт России, 2001كتاب -
17
Государственная поверочная схема для средств измерений поверхностной плотности и толщины листовых и ленточных материалов Рекомендация. МИ 2123-90...
منشور في Москва, Изд-во стандартов, 1991كتاب -
18
Безопасность радиационная экипажа космического аппарата в космическом полете. Метод расчета распределения поглощенной и эквивалентной доз космических излучений по толщине материало...
منشور في Москва, Издательство стандартов, 1990كتاب -
19
Материалы текстильные стекловолокнистные. Технические условия. Методы анализа сборник
منشور في Москва, ИПК Издательство стандартов, 2002كتاب -
20