Suchergebnisse
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
Ähnliche Schlagwörter innerhalb Ihrer Suche.
- неравновесные носители
- генерация 10
- рекомбинация 10
- заряды 9
- полупроводники 9
- твердые тела 7
- диэлектрики 6
- физика 6
- ионные кристаллы 5
- параметры 5
- поглощение 5
- электронный ресурс 5
- ГИН-400 4
- дозиметрия 4
- заряд 4
- импульсное электронное облучение 4
- поверхностные явления 4
- свет 4
- учебные пособия 4
- электризация 4
- авторефераты диссертаций 3
- азид свинца 3
- вольтамперные характеристики 3
- диаграммы 3
- дырки 3
- захваты 3
- зонная теория 3
- измерения 3
- контактные поля 3
- контактные явления 3
-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
Фотолиз систем "азид свинца - теллурид кадмия"
Veröffentlicht 2004Volltext
Elektronisch Buchkapitel -
6
Разработка и изготовление прибора для измерения времени жизни в полупроводниковых диодах Отчет о НИР Тема: № 105/70...
Veröffentlicht Томск, 1973Buch -
7
Фотолиз азида свинца в контакте с оксидом меди (I)
Veröffentlicht 2006Volltext
Elektronisch Buchkapitel -
8
Динамика развития стримерного разряда в полупроводниках
Veröffentlicht 2007Volltext
Elektronisch Buchkapitel -
9
Фотоэлектрические процессы в полупроводниках учебное пособие для вузов
Veröffentlicht Киев, Вища школа, 1982Buch -
10
-
11
Проблемы физики полупроводников сборник статей пер. с англ.
Veröffentlicht Москва, Изд-во иностранной литературы, 1957Buch -
12
-
13
Физические основы твердотельной электроники учебное пособие
Veröffentlicht Москва, Изд-во МГУ, 1986Buch -
14
Электрический пробой ионных кристаллов монография
Veröffentlicht Томск, Изд-во Томского ун-та, 2014Buch -
15
Исследования неравновесных носителей в германии при низких температурах
Veröffentlicht Москва, Наука, 1985Buch -
16
-
17
Электронное хемовозбуждение твердых тел (феноменологическая теория) автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук спец. 01.04.07...
Veröffentlicht Новосибирск, [Б. и.], 1978Buch -
18
Бесконтактный метод измерения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках
Veröffentlicht 2003Buchkapitel -
19
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов учебник
Veröffentlicht Москва, Высшая школа, 1987Buch -
20