Результаты поиска
Предлагаемые темы внутри своего поиска.
Предлагаемые темы внутри своего поиска.
- глубина залегания р-nперехода 1
- емкость ионита 1
- измерение коэффициента отражения 1
- измерение коэффициента пропускания 1
- ионообменные процессы 1
- кинетика процесса ионного обмена 1
- металлические слои 1
- метод сферического шлифа
- обработка результатов измерений 1
- оптические свойства тонкопленочных структур 1
- погрешности четырехзондового метода 1
- полупроводниковые пластины 1
- полупроводниковые слои 1
- порядок выполнения работы 1
- предельный вакуум 1
- спектр излучения полупроводниковой структуры 1
- спектрофотометрия излучения 1
- спектрофотометрия отраженного излучения 1
- спектрофотометрия поглощения 1
- турбомолекулярный насос 1
- удельное сопротивление 1
- четырехзондовый метод 1
- эпитаксиальные слои 1
-
1
Основы технологии электронной компонентной базы учебно-методическое пособие
Опубликовано Москва, МИСИС, 2015Полный текст
Полный текст
Электронный ресурс Книга