Результати пошуку

Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
  • Показ 1 - 1 результатів із 1
Уточнити результати
  1. 1
    Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов

    Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов... за авторством Елманов Г. Н.

    Опубліковано Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
    Отримати повний текст
    Отримати повний текст
    Електронний ресурс Книга

Інструменти для пошуку: