Resultats de la cerca

Matèries dins de la cerca
  • Mostrar 1 - 1 resultats de 1
Refinar resultats
  1. 1
    Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов

    Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов... per Елманов Г. Н.

    Publicat Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
    Obtenir text complet
    Obtenir text complet
    Electrònic Llibre

Eines de cerca: