Hakutulokset
Aihe-ehdotuksia
Aihe-ehdotuksia
- глубина фокуса
- симметрия 2
- dummy устройства 1
- аберрации 1
- атомный фактор рассеяния 1
- атомов 1
- базовые правила согласования 1
- боковая диффузия 1
- вектор бюргерса 1
- виды рассогласований 1
- вульфабрэгга 1
- выбор размера устройств 1
- граничные условия 1
- гцк решетке 1
- дефекты 1
- дефекты упаковки 1
- дислокации 1
- дислокации в кристаллах 1
- дислокации в кристаллических структурах 1
- дифракция 1
- затенение имплантации 1
- искажения электронных линз 1
- контур 1
- кристаллах 1
- кристаллическая решетка 1
- кристаллических 1
- кристаллографические символы 1
- магнитных полей 1
- метод дебаяшеррера 1
- метод корневого компонента 1
-
1
Структурные методы исследования кристаллов
Julkaistu Кемерово, КемГУ, 2012Hae kokoteksti
Hae kokoteksti
Elektroninen Kirja -
2
Введение в системы автоматизированного проектирования интегральных микросхем. Часть II Учебно-методическое пособие...
Julkaistu Воронеж, ВГУ, 2018Hae kokoteksti
Hae kokoteksti
Elektroninen Kirja