Zoekresultaten

  • Toon 1 - 9 resultaten van 9
Verfijn jouw resultaten
  1. 1
  2. 2
  3. 3

    Микроанализ и растровая электронная микроскопия пер. с фр.

    Gepubliceerd in Москва, Металлургия, 1985
    Boek
  4. 4

    Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

    Gepubliceerd in Berlin, Springer-Verlag, 1984
    Boek
  5. 5
  6. 6

    Ионный зонд door Черепин В. Т. Валентин Тихонович

    Gepubliceerd in Киев, Наукова думка, 1981
    Boek
  7. 7

    Применение электронной микроскопии в современной технике тезисы докладов симпозиума

    Gepubliceerd in Москва, [Б. и.], 1978
    Boek
  8. 8

    Распыление под действием бомбардировки частицами

    Gepubliceerd in Москва, Мир, 1998
    Boek
  9. 9

    Ионный микрозондовый анализ door Черепин В. Т. Валентин Тихонович

    Gepubliceerd in Киев, Наукова думка, 1992
    Boek