खोज परिणाम
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
- БИС 1
- Микроэлектроника Надежность 1
- ТТЛ 1
- алюминиевая металлизация 1
- большие интегральные схемы 1
- внешние дестабилизирующие факторы
- внутренние соединения 1
- деградация 1
- долговечность 1
- конструкции 1
- корпуса 1
- кремниевые интегральные схемы 1
- надежность 1
- оксиды 1
- полупроводниковые кристаллы 1
- проектирование 1
- физические механизмы 1
-
1