Visas
1 - 1
av
1
resultat
Hoppa till innehåll
VuFind
Språk
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
ISBN/ISSN
Tagg
Identifier
Sök
Avancerad
Sidan laddas om när ett filter tas bort.
Rensa filter
Aktiva filter:
Rekommenderade teman:
Radera filter
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Sidan laddas om när ett filter tas bort.
Rensa filter
Visa begränsningar (1)
Rekommenderade teman:
Radera filter
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Sökresultat
Sökresultat
Rekommenderade teman
Rekommenderade teman
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
качество
1
контроль
1
методы
1
метрологическое обеспечение
1
отказы
1
оценка
1
полупроводниковые микросхемы
1
причины
1
Visas
1 - 1
av
1
resultat
Förfina resultatet
Sortera
Relevans
Tid (nyaste först)
Tid (äldsta först)
Signum
Upphovsman
Titel
1
Надежность твердых интегральных схем
av
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
Publicerad Москва, Издательство стандартов, 1979
Signum:
Laddar…
Placering:
Laddar…
Bok
Laddar…
Sökverktyg:
RSS-flöde
Skicka sökningen per e-post
Tillbaka
Förfina resultatet
Sidan laddas om när ett filter väljs eller exkluderas.
Konferenspublikation
Organisation
НИ ТПУ
1 resultat
1
Bibliotek
НТБ
1 resultat
1
Vänligen aktivera JavaScript.
Materialtyp
Bok
1 resultat
1
Upphovsman
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
1 resultat
1
Кальман И. Г. Игорь Георгиевич
1 resultat
1
Мартынов В. И. Владимир Иванович
1 resultat
1
Hierarchical level
нулевои
1 resultat
1
Utgivningsår
Från och med:
Till: