Résultat(s)
1 - 1
résultats de
1
Aller au contenu
VuFind
Langue
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Tous les champs
Titre
Auteur
Sujet
ISBN/ISSN
Tag
Identifiant
Rechercher
Recherche avancée
La page se rechargera après suppression d'un filtre.
Réinitialiser les filtres
Filtres appliqués :
Suggestion de sujets:
Enlever le filtre
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
La page se rechargera après suppression d'un filtre.
Réinitialiser les filtres
Montrer les filtres (1)
Suggestion de sujets:
Enlever le filtre
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Résultats de la recherche
Résultats de la recherche
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Suggestion de sujets dans votre recherche.
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
качество
1
контроль
1
методы
1
метрологическое обеспечение
1
отказы
1
оценка
1
полупроводниковые микросхемы
1
причины
1
Résultat(s)
1 - 1
résultats de
1
Affiner les résultats
Trier
Pertinence
Date (décroissante)
Date (croissante)
Cote
Auteur
Titre
1
Надежность твердых интегральных схем
par
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
Publié Москва, Издательство стандартов, 1979
Cote:
Chargement en cours…
Localisé:
Chargement en cours…
Livre
Chargement en cours…
Outils de recherche:
S'abonner aux flux RSS
Envoyer cette recherche par courriel
Retour
Affiner les résultats
La page se rechargera quand un filtre de sélection ou d'exclusion aura été positionné.
Actes de congrès
Institution
НИ ТПУ
1 résultats
1
Bibliothèque
НТБ
1 résultats
1
Veuillez activer JavaScript.
Format
Livre
1 résultats
1
Auteur
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
1 résultats
1
Кальман И. Г. Игорь Георгиевич
1 résultats
1
Мартынов В. И. Владимир Иванович
1 résultats
1
Hierarchical level
нулевои
1 résultats
1
Année de publication
De:
À: