Showing
1 - 1
results of
1
Skip to content
VuFind
Language
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
All Fields
Title
Author
Subject
ISBN/ISSN
Tag
Identifier
Find
Advanced
Page will reload when a filter is removed.
Reset Filters
Applied Filters:
Suggested Topics:
Remove Filter
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Page will reload when a filter is removed.
Reset Filters
Show filters (1)
Suggested Topics:
Remove Filter
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
Search Results
Search Results
Suggested Topics within your search.
Suggested Topics within your search.
Микроэлектронные схемы интегральные твердые Надежность
качество
1
контроль
1
методы
1
метрологическое обеспечение
1
отказы
1
оценка
1
полупроводниковые микросхемы
1
причины
1
Showing
1 - 1
results of
1
Refine Results
Sort
Relevance
Date Descending
Date Ascending
Call Number
Author
Title
1
Надежность твердых интегральных схем
by
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
Published Москва, Издательство стандартов, 1979
Call Number:
Loading…
Located:
Loading…
Book
Loading…
Search Tools:
RSS Feed
Email Search
Back
Refine Results
Page will reload when a filter is selected or excluded.
Conference Proceeding
Institution
НИ ТПУ
1 results
1
Library
НТБ
1 results
1
Please enable JavaScript.
Format
Book
1 results
1
Author
Ефимов И. Е. Иван Ефимович
1 results
1
Кальман И. Г. Игорь Георгиевич
1 results
1
Мартынов В. И. Владимир Иванович
1 results
1
Hierarchical level
нулевои
1 results
1
Year of Publication
From:
To: