खोज परिणाम
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
- Микроэлектроника Производство Метрологическое обеспечение
- физические основы 2
- МДП-структуры 1
- автоматизация 1
- биполярные структуры 1
- вещество 1
- визуальный контроль 1
- высокотемпературная диффузия 1
- герметизация 1
- датчики 1
- диффузионное оборудование 1
- диэлектрические пластины 1
- измерения 1
- измерительные преобразователи 1
- интенсификация 1
- информация 1
- ионное легирование 1
- качество 1
- конвейерные системы 1
- конструкции 1
- контрольные операции 1
- математические модели 1
- металлизация 1
- микросхемы 1
- микроэлектронная аппаратура 1
- нанесение 1
- неразрушающие методы 1
- неразрушающий контроль 1
- оптимизация 1
- очистка 1
-
1
Метрологическое обеспечение производства приборов микроэлектроники
प्रकाशित Москва, Радио и связь, 1988पुस्तक -
2
Физические методы и средства неразрушающего контроля в производстве микроэлектронной аппаратуры и ее компонентов сборник научных трудов...
प्रकाशित Ленинград, Изд-во ЛИАП, 1986पुस्तक -
3
Физические основы создания и совершенствования технологического оборудования в микроэлектронике сборник научных трудов...
प्रकाशित Москва, Изд-во МИЭТ, 1981पुस्तक -
4
Физико-химические основы технологии микроэлектроники учебное пособие
प्रकाशित Москва, Металлургия, 1979पुस्तक -
5