खोज परिणाम
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
- Микроэлектроника Надежность
- большие интегральные схемы 2
- БИС 1
- МЭА 1
- ТТЛ 1
- алюминиевая металлизация 1
- базовые элементы 1
- внешние дестабилизирующие факторы 1
- внутренние соединения 1
- деградация 1
- долговечность 1
- испытания 1
- конструкции 1
- корпуса 1
- кремниевые интегральные схемы 1
- микроэлектронная аппаратура 1
- надежность 1
- оксиды 1
- повышение 1
- полупроводниковые кристаллы 1
- прогнозирование 1
- проектирование 1
- разработки 1
- расчет 1
- физические механизмы 1
-
1
-
2
Прогнозирование надежности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС
प्रकाशित Москва, Радио и связь, 1987पुस्तक