खोज परिणाम
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
प्रस्तावित विषय : खोज निहित
- вторичные ионы
- твердые тела 4
- вторичная ионная эмиссия 3
- микрозонды 3
- физика 3
- Оже-спектроскопия 2
- алюминий 2
- анализ 2
- внешние источники 2
- вторичные частицы 2
- закономерности 2
- изменения 2
- изотопные эффекты 2
- изотопный состав 2
- изотопы водорода 2
- ионная имплантация 2
- ионное распыление 2
- масс-спектрометрический метод 2
- механизмы 2
- молибден 2
- никель 2
- отраженные частицы 2
- поверхность 2
- приповерхностные слои 2
- процессы 2
- распыление 2
- термодиффузия 2
- техногенные воздействия 2
- титан 2
- тонкопленочные системы 2
-
1
Изотопные эффекты при техногенных воздействиях на поверхность твердых тел
प्रकाशित 2004पूर्ण पाठ प्राप्त करें
इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय -
2
Изотопные эффекты при техногенных воздействиях на поверхность твердых тел
प्रकाशित 2004पूर्ण पाठ प्राप्त करें
इलेक्ट्रोनिक पुस्तक अध्याय -
3
Микроанализ и растровая электронная микроскопия пер. с фр.
प्रकाशित Москва, Металлургия, 1985पुस्तक -
4
Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983
प्रकाशित Berlin, Springer-Verlag, 1984पुस्तक -
5
-
6
-
7
Применение электронной микроскопии в современной технике тезисы докладов симпозиума
प्रकाशित Москва, [Б. и.], 1978पुस्तक -
8
-
9