Результати пошуку
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
Рекомендовані теми у межах Вашого пошуку.
- анализатора
- анализаторы кинетических энергий 1
- артефакты измерений 1
- вероятность ожепроцесса 1
- детекторы вторичных электронов 1
- загрузка образца в вакуумный объем 1
- ионная очистка 1
- ионное травление 1
- исследование наноструктур методом сом 1
- источник ионов 1
- источники электронов 1
- карта распределения элементов в сом 1
- комплекс omicron multiprobe rm 1
- локальный элементный анализ в сом 1
- математическая обработка изображений в рэм 1
- метод растровой электронной микроскопии 1
- метод электронной ожеспектроскопии 1
- методика послойного анализа в сом 1
- методы нейтрализации зарядки 1
- механизмы формирования контраста 1
- настройка электронной колонны 1
- оборудование и характеристики комплекса 1
- обработка спектров 1
- образование ожеэлектронов 1
- подготовка образцов в вакууме 1
- процессы в материале 1
- состав пленок и дефектных областей simn/gaas и sico/si 1
- состав самоорганизованных нк si/ge/si 1
- спектр в эос 1
- тонкая структура спектра 1
-
1
Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие...
Опубліковано Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2011Отримати повний текст
Отримати повний текст
Електронний ресурс Книга