Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика

書目詳細資料
主要作者: Новаш И. В.
其他作者: Романюк Ф. А., Румянцев В. Ю., Румянцев Ю. В.
總結:В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов.
Книга из коллекции БНТУ - Инженерно-технические науки
出版: Минск, БНТУ, 2021
主題:
在線閱讀:https://e.lanbook.com/book/421832
https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg
格式: 電子 圖書