Испытания микропроцессорных токовых защит: теория, моделирование, практика
| 第一著者: | |
|---|---|
| その他の著者: | , , |
| 要約: | В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов. Книга из коллекции БНТУ - Инженерно-технические науки |
| 出版事項: |
Минск, БНТУ, 2021
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | https://e.lanbook.com/book/421832 https://e.lanbook.com/img/cover/book/421832.jpg |
| フォーマット: | 電子媒体 図書 |
| 物理的記述: | 168 с. |
|---|---|
| 要約: | В монографии рассматриваются вопросы теории, математического моделирования, практических приемов испытаний микропроцессорных токовых защит и их моделей с помощью испытательных установок и компьютерных программных комплексов. Монография рассчитана на научных сотрудников и инженерно-технический персонал энергосистем, будет полезна преподавателям, аспирантам, магистрантам и студентам вузов. Книга из коллекции БНТУ - Инженерно-технические науки |
| ISBN: | 978-985-583-726-9 |