Патентные исследования. Анализ патентной ситуации, учебное пособие
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | |
| Sumario: | В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Про- анализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Publicado: |
Москва, МИСИС, 2015
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://e.lanbook.com/book/93658 https://e.lanbook.com/img/cover/book/93658.jpg |
| Formato: | Electrónico Libro |