Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов

Bibliographic Details
Main Author: Набиуллин И. Р.
Other Authors: Гадиев Р. М., Карамов Д. Д., Корнилов В. М., Лачинов А. Н.
Summary:Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».
Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки
Published: Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016
Subjects:
Online Access:https://e.lanbook.com/book/93053
https://e.lanbook.com/img/cover/book/93053.jpg
Format: Electronic Book
Description
Physical Description:41 с.
Summary:Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».
Книга из коллекции БГПУ имени М. Акмуллы - Инженерно-технические науки