Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения пер. с англ.

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения, пер. с англ.

Opis bibliograficzny
1. autor: Спенс Дж. Джон
Kolejni autorzy: Рожанский В. Н. (340)
Streszczenie:Загл. указано на пер.
Język:rosyjski
Wydane: Москва, Наука, 1986
Hasła przedmiotowe:
электронная микроскопия
электронная оптика
волновая оптика
когерентность
освещение
эксперименты
измерение
Format: Książka
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=91875
Opis
Opis fizyczny:320 с. ил.
Streszczenie:Загл. указано на пер.

Podobne zapisy