Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Афонский А. А.
Altres autors:	Дьяконов В. П.
Sumari:	Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов. Книга из коллекции ДМК Пресс - Инженерно-технические науки
Publicat:	Москва, ДМК Пресс, 2011
Matèries:	измерения измерительные приборы интегральная микросхема микросхемы (радиоэлектроника) микроэлектроника микроэлектроника (нанотехнологии) нанотехнологии нанотехнологии (микроэлектроника) наноэлектроника осциллографы полупроводники полупроводниковый прибор цифровые измерительные устройства электронные электронные измерения электронные измерители электронные измерительные системы
Accés en línia:	https://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_cid=25&pl1_id=900 https://e.lanbook.com/img/cover/book/900.jpg
Format:	Electrònic Llibre