Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Афонский А. А.
Άλλοι συγγραφείς: Дьяконов В. П.
Περίληψη:Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.
Книга из коллекции ДМК Пресс - Инженерно-технические науки
Έκδοση: Москва, ДМК Пресс, 2011
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_cid=25&pl1_id=900
https://e.lanbook.com/img/cover/book/900.jpg
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Βιβλίο

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 i 4500
001 900
010 |a 978-5-94074-626-3 
100 |a 20200604d2011 k y0rusy01020304ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y j 000zy 
106 |a z 
200 1 |a Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике  |b Электронный ресурс  |f Афонский А. А., Дьяконов В. П. 
210 |a Москва  |b Москва  |c ДМК Пресс  |d 2011 
215 |a 688 с. 
330 |a Первая в России монография по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов. 
333 |a Книга из коллекции ДМК Пресс - Инженерно-технические науки 
610 0 |a измерения 
610 0 |a измерительные приборы 
610 0 |a интегральная микросхема 
610 0 |a микросхемы (радиоэлектроника) 
610 0 |a микроэлектроника 
610 0 |a микроэлектроника (нанотехнологии) 
610 0 |a нанотехнологии 
610 0 |a нанотехнологии (микроэлектроника) 
610 0 |a наноэлектроника 
610 0 |a осциллографы 
610 0 |a полупроводники 
610 0 |a полупроводниковый прибор 
610 0 |a цифровые измерительные устройства 
610 0 |a электронные 
610 0 |a электронные измерения 
610 0 |a электронные измерители 
610 0 |a электронные измерительные системы 
675 |a 621.3.049.77:621.3.08 
686 |a 32.844.1+31.221  |2 rubbk 
700 1 |a Афонский  |b А. А. 
701 1 |a Дьяконов  |b В. П. 
801 1 |a RU  |b Издательство Лань  |c 20200604  |g RCR 
856 4 |u https://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_cid=25&pl1_id=900 
856 4 1 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/900.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/900.jpg