Электронограммы и их интерпретация: пер. с англ.
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , , |
| Summary: | В настоящее время эффективное использование просвечивающей электронной микроскопии для исследования металлических объектов немыслимо без применения микродифракции, дающей обширную информацию о фазовом составе, тонкой кристаллической структуре, наличии и распределении дефектов в решетке. Данная книга посвящена вопросам получения и интерпретации микроэлектронограмм и написана как практическое руководство без детального рассмотрения теоретических положений. В книге описаны особенности электронограмм от тонких монокристаллических и поликристаллических объектов, подробно проанализированы ошибки, возможные при определении по электронограммам межплоскостных расстояний, рассмотрены эффекты, возникающие на сложных электронограммах из-за наличия упорядоченных фаз, выделений малых размеров, двойников и т. д., указаны приемы получения микроэлектронограмм, обеспечивающие наибольшую точность соответствия дифракционной картины выбранному на объекте участку и точность производимых при расшифровке измерений расстояний и углов. Приведен большой справочный материал: таблицы межплоскостных расстояний и углов, стереографические проекции для металлов и соединений с различной кристаллической структурой. Книга предназначена для научных работников и инженеров, применяющих электронную микроскопию для исследования металлов, а также преподавателей и студентов - металловедов и металлофизиков в качестве дополнительного пособия по методам интерпретации электронограмм. |
| Language: | Russian |
| Published: |
Москва, Мир, 1971
|
| Subjects: | |
| Format: | Book |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=89989 |
| Physical Description: | 256 с. |
|---|---|
| Summary: | В настоящее время эффективное использование просвечивающей электронной микроскопии для исследования металлических объектов немыслимо без применения микродифракции, дающей обширную информацию о фазовом составе, тонкой кристаллической структуре, наличии и распределении дефектов в решетке. Данная книга посвящена вопросам получения и интерпретации микроэлектронограмм и написана как практическое руководство без детального рассмотрения теоретических положений. В книге описаны особенности электронограмм от тонких монокристаллических и поликристаллических объектов, подробно проанализированы ошибки, возможные при определении по электронограммам межплоскостных расстояний, рассмотрены эффекты, возникающие на сложных электронограммах из-за наличия упорядоченных фаз, выделений малых размеров, двойников и т. д., указаны приемы получения микроэлектронограмм, обеспечивающие наибольшую точность соответствия дифракционной картины выбранному на объекте участку и точность производимых при расшифровке измерений расстояний и углов. Приведен большой справочный материал: таблицы межплоскостных расстояний и углов, стереографические проекции для металлов и соединений с различной кристаллической структурой. Книга предназначена для научных работников и инженеров, применяющих электронную микроскопию для исследования металлов, а также преподавателей и студентов - металловедов и металлофизиков в качестве дополнительного пособия по методам интерпретации электронограмм. |