Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие
| Prif Awdur: | |
|---|---|
| Awdur Corfforaethol: | |
| Crynodeb: | Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей. |
| Iaith: | Rwseg |
| Cyhoeddwyd: |
Москва, Техносфера, 2004
|
| Pynciau: | |
| Fformat: | Llyfr |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=88283 |
Eitemau Tebyg
Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
gan: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Cyhoeddwyd: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
gan: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Cyhoeddwyd: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)
Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
gan: Набиуллин И. Р.
Cyhoeddwyd: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)
gan: Набиуллин И. Р.
Cyhoeddwyd: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)
Особенности применения автодинных КВЧ модулей для сканирующей зондовой микроволновой микроскопии; Вестник науки Сибири; № 1 (2)
gan: Трубачев А. А. Анатолий Андреевич
Cyhoeddwyd: (2012)
gan: Трубачев А. А. Анатолий Андреевич
Cyhoeddwyd: (2012)
Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии: учебное пособие
gan: Кузнецов П. В. Павел Викторович
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во ТПУ, 2003)
gan: Кузнецов П. В. Павел Викторович
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во ТПУ, 2003)
Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Cyhoeddwyd: (Москва, Научный мир, 2011)
Cyhoeddwyd: (Москва, Научный мир, 2011)
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
gan: Елманов Г. Н.
Cyhoeddwyd: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2011)
gan: Елманов Г. Н.
Cyhoeddwyd: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2011)
Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
gan: Ищенко А. А.
Cyhoeddwyd: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
gan: Ищенко А. А.
Cyhoeddwyd: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Cyhoeddwyd: (Москва, Наука, 2006)
Cyhoeddwyd: (Москва, Наука, 2006)
Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
gan: Свищев Г. М.
Cyhoeddwyd: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2011)
gan: Свищев Г. М.
Cyhoeddwyd: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2011)
Рефлектометрия поляризованных нейтронов
gan: Никитенко Ю. В.
Cyhoeddwyd: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2013)
gan: Никитенко Ю. В.
Cyhoeddwyd: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2013)
Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
Cyhoeddwyd: (Казань, КНИТУ, 2018)
Cyhoeddwyd: (Казань, КНИТУ, 2018)
Исследование полупроводниковых пленок CU2S методами атомно-силовой микроскопии; Современное материаловедение: материалы и технологии новых поколений
gan: Дронова М. В.
Cyhoeddwyd: (2014)
gan: Дронова М. В.
Cyhoeddwyd: (2014)
Метод оценки толщины ультратонких плёнок; Приборы и техника эксперимента; № 3
gan: Стогний А. И.
Cyhoeddwyd: (2003)
gan: Стогний А. И.
Cyhoeddwyd: (2003)
Микроскопические методы исследования материалов: пер. с англ.
gan: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
gan: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
Техника микроскопии биологических клеток: учебное пособие
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)
Микроскопические методы исследования материалов
gan: Кларк Э. Р.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
gan: Кларк Э. Р.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
Сила нанотехнологий: наука&бизнес
gan: Андрюшин Е. А. Евгений Александрович
Cyhoeddwyd: (Фрязино, Успехи физики, 2007)
gan: Андрюшин Е. А. Евгений Александрович
Cyhoeddwyd: (Фрязино, Успехи физики, 2007)
Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
gan: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
gan: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Cyhoeddwyd: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
gan: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2010)
gan: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2010)
Metrology, standardization and certification: laboratory practical course
gan: Shevchenko I. M.
Cyhoeddwyd: (Ставрополь, СКФУ, 2023)
gan: Shevchenko I. M.
Cyhoeddwyd: (Ставрополь, СКФУ, 2023)
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей
gan: Егорова О. В. Ольга Владимировна
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
gan: Егорова О. В. Ольга Владимировна
Cyhoeddwyd: (Москва, Техносфера, 2007)
Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
gan: Утевский Л. М. Лев Маркович
Cyhoeddwyd: (Москва, Металлургия, 1973)
gan: Утевский Л. М. Лев Маркович
Cyhoeddwyd: (Москва, Металлургия, 1973)
Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02): электронный курс
gan: Панин А. В. Алексей Викторович
Cyhoeddwyd: (Томск, TPU Moodle, 2024)
gan: Панин А. В. Алексей Викторович
Cyhoeddwyd: (Томск, TPU Moodle, 2024)
Растровая оптическая микроскопия
gan: Дюков Валентин Георгиевич
Cyhoeddwyd: (Москва, Наука, 1992)
gan: Дюков Валентин Георгиевич
Cyhoeddwyd: (Москва, Наука, 1992)
Электронная микроскопия
Cyhoeddwyd: (Москва, Гостехиздат, 1954)
Cyhoeddwyd: (Москва, Гостехиздат, 1954)
Основы сканирующей зондовой микроскопии
gan: Корнилов В. М.
Cyhoeddwyd: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2011)
gan: Корнилов В. М.
Cyhoeddwyd: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2011)
Исследование структуры сверхпроводящего кабеля на основе Nb-Ti сплава после различных степеней деформации методом АСМ; Перспективные материалы конструкционного и функционального назначения
gan: Ынтымакова А. С.
Cyhoeddwyd: (2020)
gan: Ынтымакова А. С.
Cyhoeddwyd: (2020)
Акустическая микроскопия
gan: Маев Р. Г. Роман Григорьевич
Cyhoeddwyd: (Москва, ТОРУС ПРЕСС, 2005)
gan: Маев Р. Г. Роман Григорьевич
Cyhoeddwyd: (Москва, ТОРУС ПРЕСС, 2005)
Получение и исследование наноструктур. Лабораторный практикум по нанотехнологиям: учебное пособие
Cyhoeddwyd: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011)
Cyhoeddwyd: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011)
Рудная микроскопия: современные методы исследования рудных минералов под микроскопом; пер. с англ.
gan: Кэмерон К. Ю. К. Юджин
Cyhoeddwyd: (Москва, Мир, 1966)
gan: Кэмерон К. Ю. К. Юджин
Cyhoeddwyd: (Москва, Мир, 1966)
Успехи современной микроскопии
gan: Гайдуков Н.
Cyhoeddwyd: (Харьков, Типография "Мирный Труд", 1910)
gan: Гайдуков Н.
Cyhoeddwyd: (Харьков, Типография "Мирный Труд", 1910)
Измерение модуля Юнга сверхтвёрдых материалов с помощью сканирующего зондового микроскопа "НаноСкан"; Приборы и техника эксперимента; № 1
gan: Усеинов А. С.
Cyhoeddwyd: (2004)
gan: Усеинов А. С.
Cyhoeddwyd: (2004)
Методы исследования материалов
gan: Газенаур Е. Г.
Cyhoeddwyd: (Кемерово, КемГУ, 2013)
gan: Газенаур Е. Г.
Cyhoeddwyd: (Кемерово, КемГУ, 2013)
Получение и исследование наноструктур: лабораторный практикум по нанотехнологиям
Cyhoeddwyd: (Москва, Бином ЛЗ, 2010)
Cyhoeddwyd: (Москва, Бином ЛЗ, 2010)
Стеклообразное состояние (электронно-микроскопический и ИК-спектроскопический методы исследования стеклообразных материалов): учебное пособие
gan: Петровская М. Л. Марина Лазаревна
Cyhoeddwyd: (Ленинград, Изд-во ЛТИ, 1983)
gan: Петровская М. Л. Марина Лазаревна
Cyhoeddwyd: (Ленинград, Изд-во ЛТИ, 1983)
Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества
Cyhoeddwyd: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010)
Cyhoeddwyd: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010)
Визуализация с помощью лазерного монитора взаимодействия лазерного излучения с поверхностью стекло- и пироуглерода; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 312, № 2 : Математика и механика. Физика
Cyhoeddwyd: (2008)
Cyhoeddwyd: (2008)
Просвечивающая электронная микроскопия
gan: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Cyhoeddwyd: (Киев, Наукова думка, 1975)
gan: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Cyhoeddwyd: (Киев, Наукова думка, 1975)
The Formation of Gradient Submicrocrystalline Structure at Nickel Surface Layers under Ultrasonic Impact Treatment; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
Cyhoeddwyd: (2015)
Cyhoeddwyd: (2015)
Methods of diagnostics and analysis of nanosystems: Laboratory practical course
gan: Shevchenko I. M.
Cyhoeddwyd: (Ставрополь, СКФУ, 2023)
gan: Shevchenko I. M.
Cyhoeddwyd: (Ставрополь, СКФУ, 2023)