Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author:	Миронов В. Л.
Corporate Author:	Российская академия наук (РАН) Институт физики микроструктур
Summary:	Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
Language:	Russian
Published:	Москва, Техносфера, 2004
Subjects:	физика твердые тела наноструктуры туннельные микроскопы атомно-силовые микроскопы сканирующая зондовая микроскопия материаловедение
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=88283

Similar Items

Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
by: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
Published: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов
by: Набиуллин И. Р.
Published: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2016)

Особенности применения автодинных КВЧ модулей для сканирующей зондовой микроволновой микроскопии; Вестник науки Сибири; № 1 (2)
by: Трубачев А. А. Анатолий Андреевич
Published: (2012)

Сканирующая зондовая микроскопия поверхности твердых тел и связанные с ней технологии: учебное пособие
by: Кузнецов П. В. Павел Викторович
Published: (Томск, Изд-во ТПУ, 2003)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Published: (Москва, Научный мир, 2011)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
by: Елманов Г. Н.
Published: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2011)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
by: Ищенко А. А.
Published: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Published: (Москва, Наука, 2006)

Конфокальная микроскопия и ультрамикроскопия живой клетки
by: Свищев Г. М.
Published: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2011)

Рефлектометрия поляризованных нейтронов
by: Никитенко Ю. В.
Published: (Москва, ФИЗМАТЛИТ, 2013)

Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
Published: (Казань, КНИТУ, 2018)

Исследование полупроводниковых пленок CU2S методами атомно-силовой микроскопии; Современное материаловедение: материалы и технологии новых поколений
by: Дронова М. В.
Published: (2014)

Метод оценки толщины ультратонких плёнок; Приборы и техника эксперимента; № 3
by: Стогний А. И.
Published: (2003)

Микроскопические методы исследования материалов: пер. с англ.
by: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Published: (Москва, Техносфера, 2007)

Техника микроскопии биологических клеток: учебное пособие
Published: (Томск, Изд-во ТПУ, 2009)

Микроскопические методы исследования материалов
by: Кларк Э. Р.
Published: (Москва, Техносфера, 2007)

Сила нанотехнологий: наука&бизнес
by: Андрюшин Е. А. Евгений Александрович
Published: (Фрязино, Успехи физики, 2007)

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
by: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Published: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
by: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Published: (Москва, Техносфера, 2010)

Metrology, standardization and certification: laboratory practical course
by: Shevchenko I. M.
Published: (Ставрополь, СКФУ, 2023)

Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей
by: Егорова О. В. Ольга Владимировна
Published: (Москва, Техносфера, 2007)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
by: Утевский Л. М. Лев Маркович
Published: (Москва, Металлургия, 1973)

Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02): электронный курс
by: Панин А. В. Алексей Викторович
Published: (Томск, TPU Moodle, 2024)

Растровая оптическая микроскопия
by: Дюков Валентин Георгиевич
Published: (Москва, Наука, 1992)

Электронная микроскопия
Published: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Основы сканирующей зондовой микроскопии
by: Корнилов В. М.
Published: (Уфа, БГПУ имени М. Акмуллы, 2011)

Исследование структуры сверхпроводящего кабеля на основе Nb-Ti сплава после различных степеней деформации методом АСМ; Перспективные материалы конструкционного и функционального назначения
by: Ынтымакова А. С.
Published: (2020)

Акустическая микроскопия
by: Маев Р. Г. Роман Григорьевич
Published: (Москва, ТОРУС ПРЕСС, 2005)

Получение и исследование наноструктур. Лабораторный практикум по нанотехнологиям: учебное пособие
Published: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011)

Рудная микроскопия: современные методы исследования рудных минералов под микроскопом; пер. с англ.
by: Кэмерон К. Ю. К. Юджин
Published: (Москва, Мир, 1966)

Успехи современной микроскопии
by: Гайдуков Н.
Published: (Харьков, Типография "Мирный Труд", 1910)

Измерение модуля Юнга сверхтвёрдых материалов с помощью сканирующего зондового микроскопа "НаноСкан"; Приборы и техника эксперимента; № 1
by: Усеинов А. С.
Published: (2004)

Методы исследования материалов
by: Газенаур Е. Г.
Published: (Кемерово, КемГУ, 2013)

Получение и исследование наноструктур: лабораторный практикум по нанотехнологиям
Published: (Москва, Бином ЛЗ, 2010)

Стеклообразное состояние (электронно-микроскопический и ИК-спектроскопический методы исследования стеклообразных материалов): учебное пособие
by: Петровская М. Л. Марина Лазаревна
Published: (Ленинград, Изд-во ЛТИ, 1983)

Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества
Published: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010)

Визуализация с помощью лазерного монитора взаимодействия лазерного излучения с поверхностью стекло- и пироуглерода; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 312, № 2 : Математика и механика. Физика
Published: (2008)

Просвечивающая электронная микроскопия
by: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Published: (Киев, Наукова думка, 1975)

The Formation of Gradient Submicrocrystalline Structure at Nickel Surface Layers under Ultrasonic Impact Treatment; AIP Conference Proceedings; Vol. 1683 : Advanced Materials with Hierarchical Structure for New Technologies and Reliable Structures
Published: (2015)

Methods of diagnostics and analysis of nanosystems: Laboratory practical course
by: Shevchenko I. M.
Published: (Ставрополь, СКФУ, 2023)