• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Recherche avancée
  • Ч. 3; Новый справочник химика...
  • Citer
  • Envoyer par SMS
  • Envoyer par courriel
  • Imprimer
  • Exporter les notices
    • Exporter vers RefWorks
    • Exporter vers EndNoteWeb
    • Exporter vers EndNote
  • Permalien
Ч. 3; Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия

Ч. 3; Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия

Détails bibliographiques
Parent link:Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия. Ч. 3.— , 2002-.— 5-94365-046-6
Autres auteurs: Барбалат Ю. А. Юрий Александрович, Власов Ю. Г. Юрий Георгиевич, Демин В. А. Владимир Александрович, Ермоленко Ю. Е. Юрий Евгеньевич, Золотов Ю. А. Юрий Александрович
Langue:russe
Publié: 2004
Sujets:
Аналитическая химия
спектроскопический анализ
рентгеновская спектроскопия
аппаратура
справочные таблицы
молекулярная спектроскопия
фотометрические методы
количественный анализ
поглощение
рентгенофлуоресцентный анализ
электронно-зондовый анализ
метод Оже-электронной спектроскопии
справочники
спектры
Format: Livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=84593
  • Exemplaires
  • Description
  • Documents similaires
  • Affichage MARC
Description
Description matérielle:690 с. ил.
ISBN:5943650571
5-98371-002-8

Documents similaires

  • Ч. 2; Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия
    Publié: (2003)
  • Ч. 1; Новый справочник химика и технолога. Аналитическая химия
    Publié: (2002)
  • Comparison of gaseous contamination of thin tungsten and gold coatings deposited from ablated plasma generated by Intense Pulsed Ion Beams; Thin Solid Films; Vol. 758
    par: Ryzhkov V. A. Vladislav Andreevich
    Publié: (2022)
  • Аналитическая химия и физико-химические методы анализа. Ч. 2: учебное пособие
    par: Дубова Н. М. Надежда Михайловна
    Publié: (Томск, Изд-во ТПУ, 2011)
  • Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
    par: Брандон Д.
    Publié: (Москва, Техносфера, 2006)