Введение в физику поверхности

Bibliografski detalji
Autor kompanije: Российская академия наук (РАН) Дальневосточное отделение (ДВО) Институт автоматики и процессов управления (ИАПУ)
Daljnji autori: Оура К. Кендзиро, Лифшиц В. Г. Виктор Григорьевич, Саранин А. А. Александр Александрович, Зотов А. В. Андрей Вадимович, Катаяма М. Митсухиро
Sažetak:Книга посвящена физике поверхности. Она дает необходимую вводную информацию для исследователей, которые только начинают работать в данной области. Книга содержит все наиболее важные аспекты современной науки о поверхности от экспериментальной базы и основ кристаллографии до современных аналитических методов и их использования в изучении тонких пленок и наноструктур. Для специалистов в области физики поверхности, аспирантов, студентов старших курсов инженерных и физических специальностей.
Jezik:ruski
Izdano: Москва, Наука, 2006
Teme:
Format: Knjiga
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=83438

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 83438
005 20231101213308.0
010 |a 5020343552 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\89698 
090 |a 83438 
100 |a 20051017d2006 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Введение в физику поверхности  |f К. Оура, В. Г. Лифшиц, А. А. Саранин [и др.]  |g Дальневосточное отделение РАН; Институт автоматики и процессов управления 
210 |a Москва  |c Наука  |d 2006 
215 |a 490 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 464-481. 
320 |a Предметный указатель: с. 482-490. 
330 |a Книга посвящена физике поверхности. Она дает необходимую вводную информацию для исследователей, которые только начинают работать в данной области. Книга содержит все наиболее важные аспекты современной науки о поверхности от экспериментальной базы и основ кристаллографии до современных аналитических методов и их использования в изучении тонких пленок и наноструктур. Для специалистов в области физики поверхности, аспирантов, студентов старших курсов инженерных и физических специальностей. 
606 |a Физика поверхности  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\63723  |9 80699 
610 1 |a двумерная кристаллография 
610 1 |a индекс Миллера 
610 1 |a зона Бриллюэна 
610 1 |a сверхвысокий вакуум 
610 1 |a вакуумная техника 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a медленные электроны 
610 1 |a быстрые электроны 
610 1 |a рентгеновская дифракция 
610 1 |a электронная спектроскопия 
610 1 |a ионы 
610 1 |a зондирование 
610 1 |a микроскопия 
610 1 |a чистые поверхности 
610 1 |a атомная структура 
610 1 |a релаксация 
610 1 |a реконструкция 
610 1 |a металлы 
610 1 |a графит 
610 1 |a полупроводники 
610 1 |a поверхности с адсорбатами 
610 1 |a адсорбаты 
610 1 |a структурные дефекты 
610 1 |a электронные свойства 
610 1 |a адсорбция 
610 1 |a десорбция 
610 1 |a диффузия 
610 1 |a тонкие пленки 
610 1 |a рост 
610 1 |a наноструктуры 
610 1 |a формирование 
610 1 |a поверхности 
675 |a 530.1  |v 3 
701 1 |a Оура  |b К.  |g Кендзиро 
701 1 |a Лифшиц  |b В. Г.  |g Виктор Григорьевич 
701 1 |a Саранин  |b А. А.  |g Александр Александрович 
701 1 |a Зотов  |b А. В.  |g Андрей Вадимович 
701 1 |a Катаяма  |b М.  |g Митсухиро 
712 0 2 |a Российская академия наук (РАН)  |b Дальневосточное отделение (ДВО)  |b Институт автоматики и процессов управления (ИАПУ)  |c (Владивосток)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\14702 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20051017  |g PSBO 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220513  |g PSBO 
942 |c BK 
959 |a 70/20050908  |d 1  |e 0  |f НФ:1