Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Энгель Л.
Andere auteurs:	Клингеле Г.
Taal:	Russisch
Gepubliceerd in:	Москва, Металлургия, 1986
Onderwerpen:	растровая электронная микроскопия рентгеновский микроанализ Оже-спектрометр повреждения металлы дефекты строение изломы разрушения справочники
Formaat:	Boek
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=79096

Gelijkaardige items

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Gepubliceerd in: (1984)

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Gepubliceerd in: (1984)

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1985)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Растровая оптическая микроскопия
door: Дюков Валентин Георгиевич
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 1992)

Практическая растровая электронная микроскопия: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1978)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
door: Рид С. Дж. Б.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2008)

Электронная микроскопия в металловедении: справочник
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1985)

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Gepubliceerd in: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
door: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Gepubliceerd in: (Москва, Юрайт, 2019)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
door: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Gepubliceerd in: (Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
door: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Gepubliceerd in: (Москва, Флинта, 2008)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2009)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
door: Синдо Д Дайзуке
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2006)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
door: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Gepubliceerd in: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

An auger spectrometer control system; Control and Communications (SIBCON)
Gepubliceerd in: (2016)

Введение в растровую электронную микроскопию
door: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
Gepubliceerd in: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)

Автоматическое управление и регистрация оже-спектрометром 09 ИОС-3; Приборы и техника эксперимента; № 3
Gepubliceerd in: (2003)

Электронная микроскопия
Gepubliceerd in: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Т. 3: Электронные пучки в диагностике твердого тела; Пучки заряженных частиц и твердое тело
Gepubliceerd in: (1990)

РЭМ исследование поверхности разрушения деформированных образцов титан-ниобиевого сплава в различных структурных состояниях; Современные технологии и материалы новых поколений
door: Орлова Е. С.
Gepubliceerd in: (2017)

Электронная микроскопия в минералогии: пер. с англ.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1979)

Структура и фазовый состав суперсплава на основе Ni-Al-Cr, легированного Re и La; Перспективы развития фундаментальных наук
door: Никоненко Е. Л. Елена Леонидовна
Gepubliceerd in: (2015)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
door: Брандон Д.
Gepubliceerd in: (Москва, Техносфера, 2006)

Электронная оптика и электронная микроскопия: пер. с англ.
door: Хокс П.
Gepubliceerd in: (Москва, Мир, 1974)

Просвечивающая электронная микроскопия
door: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Gepubliceerd in: (Киев, Наукова думка, 1975)

Исследование структуры полимерных трековых мембран с помощью растворовой электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 2
door: Нестерова Н. А.
Gepubliceerd in: (2007)

Дифракционная электронная микроскопия в металловедении
door: Утевский Л. М. Лев Маркович
Gepubliceerd in: (Москва, Металлургия, 1973)

Контроль усталостных повреждений при ресурсных испытаниях полуоси стабилизатора маневренного самолета с использованием метода акустической эмиссии и тензометрии; Дефектоскопия; № 9
Gepubliceerd in: (2004)

Modern scanning electron microscopy for investigation of platinum metals corrosion, initiated by catalytic co and NH[3] oxidation; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 2 : Химия
door: Salanov A. N.
Gepubliceerd in: (2018)

Визуализация локализованной деформации при трении; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 2
door: Тарасов С. Ю. Сергей Юльевич
Gepubliceerd in: (2005)

Вып. 2; Приборы и методы физического металловедения
Gepubliceerd in: (1974)

Современные методы структурного анализа в материаловедении: учебное пособие
door: Кульков С. Н. Сергей Николаевич
Gepubliceerd in: (Томск, Изд-во ТПУ, 2004)

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 1982)

Стойкостные испытания ружейных сверл малых диаметров; Справочник. Инженерный журнал с приложением; № S1
door: Кирсанов С. В. Сергей Васильевич
Gepubliceerd in: (2016)

Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения: пер. с англ.
door: Спенс Дж. Джон
Gepubliceerd in: (Москва, Наука, 1986)

Технологическое обеспечение эксплуатационных показателей деталей и узлов авиационных двигателей; Справочник. Инженерный журнал; № 5
door: Кожина Т. Д.
Gepubliceerd in: (2005)

Мезомеханика поведения тонких пленок Cu на подложке при одноосном растяжении и термическом отжиге. Многоуровневый подход; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 4
Gepubliceerd in: (2005)

Исследование методами термо-э.д.с. и растровой электронной микроскопии влияния водорода на поверхность титана и нержавеющей стали 12Х18Н10Т; Перспективы развития фундаментальных наук
door: Чупина А. С.
Gepubliceerd in: (2008)

Электронная микроскопия мозга
door: Саркисов С. А. Семен Александрович
Gepubliceerd in: (Москва, Медицина, 1967)