Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.

Растровая электронная микроскопия. Разрушение: справочник; пер. с нем.

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Энгель Л.
Altres autors:	Клингеле Г.
Idioma:	rus
Publicat:	Москва, Металлургия, 1986
Matèries:	растровая электронная микроскопия рентгеновский микроанализ Оже-спектрометр повреждения металлы дефекты строение изломы разрушения справочники
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=79096

Ítems similars

Кн. 2; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Кн. 1; Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ
Publicat: (1984)

Микроанализ и растровая электронная микроскопия: пер. с фр.
Publicat: (Москва, Металлургия, 1985)

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.
Publicat: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)

Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Publicat: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)

Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии: пер. с англ.
per: Рид С. Дж. Б.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2008)

Электронная микроскопия в металловедении: справочник
Publicat: (Москва, Металлургия, 1985)

Материаловедение: методы исследования структуры и состава материалов: учебное пособие для академического бакалавриата
per: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Publicat: (Москва, Юрайт, 2019)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
per: Ищенко А. А.
Publicat: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)

Растровая электронная микроскопия учебное пособие
per: Сахаров Н. В.
Publicat: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2020)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Новосибирск, Изд-во НГТУ, 2006)

Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: учебное пособие
per: Батаев В. А. Владимир Андреевич
Publicat: (Москва, Флинта, 2008)

Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения: учебное пособие
Publicat: (Москва, Техносфера, 2009)

Зондирующие методы исследований в материаловедении: учебное пособие
per: Карпасюк В. К. Владимир Корнилович
Publicat: (Астрахань, Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014)

Введение в нанотехнологию
per: Марголин В. И.
Publicat: (Санкт-Петербург, Лань, 2022)

Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия: пер. с англ.
per: Синдо Д Дайзуке
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

An auger spectrometer control system; Control and Communications (SIBCON)
Publicat: (2016)

Автоматическое управление и регистрация оже-спектрометром 09 ИОС-3; Приборы и техника эксперимента; № 3
Publicat: (2003)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: пер. с англ.
per: Брандон Д.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2006)

Введение в растровую электронную микроскопию
per: Сапарин Г. В. Геннадий Васильевич
Publicat: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1988)

Современные методы аналитического контроля материалов лабораторный практикум
per: Сальников В. Д.
Publicat: (Москва, МИСИС, 2020)

Электронная микроскопия
Publicat: (Москва, Гостехиздат, 1954)

Электронная микроскопия в минералогии: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Мир, 1979)

РЭМ исследование поверхности разрушения деформированных образцов титан-ниобиевого сплава в различных структурных состояниях; Современные технологии и материалы новых поколений
per: Орлова Е. С.
Publicat: (2017)

Контроль усталостных повреждений при ресурсных испытаниях полуоси стабилизатора маневренного самолета с использованием метода акустической эмиссии и тензометрии; Дефектоскопия; № 9
Publicat: (2004)

Т. 3: Электронные пучки в диагностике твердого тела; Пучки заряженных частиц и твердое тело
Publicat: (1990)

Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
per: Пилюгин С. М.
Publicat: (Воронеж, ВГУ, 2019)

Структура и фазовый состав суперсплава на основе Ni-Al-Cr, легированного Re и La; Перспективы развития фундаментальных наук
per: Никоненко Е. Л. Елена Леонидовна
Publicat: (2015)

Просвечивающая электронная микроскопия
per: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Publicat: (Киев, Наукова думка, 1975)

Электронная оптика и электронная микроскопия: пер. с англ.
per: Хокс П.
Publicat: (Москва, Мир, 1974)

Исследование структуры полимерных трековых мембран с помощью растворовой электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 2
per: Нестерова Н. А.
Publicat: (2007)

Технологическое обеспечение эксплуатационных показателей деталей и узлов авиационных двигателей; Справочник. Инженерный журнал; № 5
per: Кожина Т. Д.
Publicat: (2005)

Исследование методами термо-э.д.с. и растровой электронной микроскопии влияния водорода на поверхность титана и нержавеющей стали 12Х18Н10Т; Перспективы развития фундаментальных наук
per: Чупина А. С.
Publicat: (2008)

Modern scanning electron microscopy for investigation of platinum metals corrosion, initiated by catalytic co and NH[3] oxidation; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 2 : Химия
per: Salanov A. N.
Publicat: (2018)

Плазменное упрочнение валков сортопрокатного стана: структурно-масштабные уровни модификации чугуна; Физическая мезомеханика; Т. 9, № 2
Publicat: (2006)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии: пер. с англ.
Publicat: (Москва, Научный мир, 2011)

Визуализация локализованной деформации при трении; Физическая мезомеханика; Т. 8, № 2
per: Тарасов С. Ю. Сергей Юльевич
Publicat: (2005)

Аналитические методы исследования реакторных материалов учебное пособие для вузов
per: Приходько К. Е.
Publicat: (Москва, НИЯУ МИФИ, 2012)

Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Publicat: (Москва, Наука, 1982)

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие; пер. с англ.
per: Брандон Д.
Publicat: (Москва, Техносфера, 2004)