Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа: лабораторный практикум, учебное пособие для вузов
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Sammanfattning: | Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений Лабораторный практикум посвящен изучению свойств пленок, наноструктур, наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии, при этом существенное внимание уделено технологических процессам получения образцов для таких исследований. Лабораторный практикум выполняется в режиме как локального, так и удаленного доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследованию наноструктурированных материалов, объектов и систем методами сканирующей зондовой микроскопии. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по специальности «Физика конденсированного вещества» и специализирующихся по кафедре «Компьютерного моделирования и физики наноструктур и сверхпроводников», а также может быть рекомендовано для студентов, аспирантов, слушателей групп повышения квалификации и переподготовки специалистов в области получения и исследования пленок, наноструктур и наноматериалов Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика |
| Publicerad: |
Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
|
| Ämnen: | |
| Länkar: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75888 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75888.jpg |
| Materialtyp: | Elektronisk Bok |
| Fysisk beskrivning: | 96 с. |
|---|---|
| Sammanfattning: | Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений Лабораторный практикум посвящен изучению свойств пленок, наноструктур, наноматериалов с помощью сканирующей зондовой микроскопии, при этом существенное внимание уделено технологических процессам получения образцов для таких исследований. Лабораторный практикум выполняется в режиме как локального, так и удаленного доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследованию наноструктурированных материалов, объектов и систем методами сканирующей зондовой микроскопии. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по специальности «Физика конденсированного вещества» и специализирующихся по кафедре «Компьютерного моделирования и физики наноструктур и сверхпроводников», а также может быть рекомендовано для студентов, аспирантов, слушателей групп повышения квалификации и переподготовки специалистов в области получения и исследования пленок, наноструктур и наноматериалов Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Физика |
| ISBN: | 978-5-7262-1428-3 |