Разработка системы детектирования дефектов на термограммах; Молодежь и современные информационные технологии
| Parent link: | Молодежь и современные информационные технологии.— 2026.— С. 183-187 |
|---|---|
| Tác giả chính: | |
| Tác giả khác: | |
| Tóm tắt: | Разработан пайплайн для детекции дефектов на термограммах, включая денойзинг с использованием SwinIR, апскейлинг FastSRCNN и детекцию YOLOv8. Подход повышает качество изображений, улучшая точность детекции. Применим в неразрушающем контроле при ограниченных ресурсах
Текстовый файл |
| Ngôn ngữ: | Tiếng Nga |
| Được phát hành: |
2026
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://earchive.tpu.ru/handle/11683/139085 |
| Định dạng: | Điện tử Chương của sách |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=687362 |