Разработка технологии нейтронно-трансмутационного легирования кремния диаметром 204 мм на реакторе ИРТ-Т

Dades bibliogràfiques
Parent link:Взаимодействие излучений с твердым телом (ВИТТ-2025)=Interaction of Radiation with Solids (IRS-2025): материалы 16-ой Международной конференции, 22-25 сентября 2025 г., Минск, Беларусь/ Белорусский государственный университет. С. 486-488.— .— Минск: БГУ, 2025.— 2663-9939.— https://vitt.bsu.by/publication_4.html
Altres autors: Лебедев И. И. Иван Игоревич, Варлачев (Варлачёв) В. А. Валерий Александрович, Смольников Н. В. Никита Викторович, Наймушин А. Г. Артем Георгиевич, Аникин М. Н. Михаил Николаевич, Овсенёв А. Е. Александр Евгеньевич
Sumari:Заглавие с экрана
Работа посвящена разработке и внедрению технологии нейтронно-трансмутационного легирования (НТЛ) монокристаллов кремния диаметром 204 мм на исследовательском реакторе ИРТ-Т Томского политехнического университета. Впервые обоснована возможность проведения высокоравномерного легирования без реконструкции корпуса реактора за счет использования графитового замедлителя, гафниевого фильтра тепловых нейтронов и оптимизации конфигурации активной зоны. Создан цифровой двойник реактора, обеспечивающий точное моделирование нейтронного поля и распределения фосфора в объеме кристалла. Проведенные расчеты и эксперименты подтвердили достижение однородности легирования >95 % и соответствие требованиям по радиационной безопасности. Разработана технологическая линия, обеспечивающая производительность свыше 5 тонн кремния в год. Полученные результаты открывают перспективы производства базового материала для силовой электроники и расширяют производственные возможности реактора ИРТ-Т
This study presents the development and implementation of a neutron transmutation doping (NTD) technology for monocrystalline silicon ingots with a diameter of 204 mm at the IRT-T research reactor of Tomsk Polytechnic University. The increasing demand for high-power semiconductor devices necessitates ultrapure and uniformly doped silicon, which traditional doping methods fail to provide at large diameters. Unlike expensive foreign reactor facilities, this work demonstrates a cost-effective approach using a pool-type reactor without major structural modifications. A novel vertical experimental channel (VEC-K) was designed and installed within the reactor’s graphite moderator zone. A digital twin of the reactor-channel-silicon system was developed in MCU-PTR Monte Carlo code, enabling accurate prediction of neutron flux distribution and phosphorus concentration profiles inside the ingot. A hafnium thermal neutron filter with a sectoral geometry was introduced to optimize the axial uniformity of doping. Numerical modeling and experimental validation via neutron activation dosimetry and electrical resistivity measurements confirmed a doping uniformity exceeding 95%, with an overall phosphorus distribution variation below 4%. This work offers a technically and economically viable solution for domestic NTD-Si production, restoring Russia’s competitive edge in power electronics and expanding the IRT-T reactor’s capabilities for solid-state physics applications
Текстовый файл
Idioma:rus
Publicat: 2025
Matèries:
Accés en línia:https://vitt.bsu.by/publication_4.files/486.pdf
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=684114

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 684114
005 20251226071628.0
090 |a 684114 
100 |a 20251225d2025 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a BY 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i   |b  e  
182 0 |a b 
183 0 |a cr  |2 RDAcarrier 
200 1 |a Разработка технологии нейтронно-трансмутационного легирования кремния диаметром 204 мм на реакторе ИРТ-Т  |d Development of neutron transmutation doping technology for 204 mm silicon on the IRT-T reactor  |f И. И. Лебедев, В. А. Варлачев, Н. В. Смольников [и др.] 
203 |a Текст  |c электронный  |b визуальный 
283 |a online_resource  |2 RDAcarrier 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a Библиографические ссылки: 5 назв 
330 |a Работа посвящена разработке и внедрению технологии нейтронно-трансмутационного легирования (НТЛ) монокристаллов кремния диаметром 204 мм на исследовательском реакторе ИРТ-Т Томского политехнического университета. Впервые обоснована возможность проведения высокоравномерного легирования без реконструкции корпуса реактора за счет использования графитового замедлителя, гафниевого фильтра тепловых нейтронов и оптимизации конфигурации активной зоны. Создан цифровой двойник реактора, обеспечивающий точное моделирование нейтронного поля и распределения фосфора в объеме кристалла. Проведенные расчеты и эксперименты подтвердили достижение однородности легирования >95 % и соответствие требованиям по радиационной безопасности. Разработана технологическая линия, обеспечивающая производительность свыше 5 тонн кремния в год. Полученные результаты открывают перспективы производства базового материала для силовой электроники и расширяют производственные возможности реактора ИРТ-Т 
330 |a This study presents the development and implementation of a neutron transmutation doping (NTD) technology for monocrystalline silicon ingots with a diameter of 204 mm at the IRT-T research reactor of Tomsk Polytechnic University. The increasing demand for high-power semiconductor devices necessitates ultrapure and uniformly doped silicon, which traditional doping methods fail to provide at large diameters. Unlike expensive foreign reactor facilities, this work demonstrates a cost-effective approach using a pool-type reactor without major structural modifications. A novel vertical experimental channel (VEC-K) was designed and installed within the reactor’s graphite moderator zone. A digital twin of the reactor-channel-silicon system was developed in MCU-PTR Monte Carlo code, enabling accurate prediction of neutron flux distribution and phosphorus concentration profiles inside the ingot. A hafnium thermal neutron filter with a sectoral geometry was introduced to optimize the axial uniformity of doping. Numerical modeling and experimental validation via neutron activation dosimetry and electrical resistivity measurements confirmed a doping uniformity exceeding 95%, with an overall phosphorus distribution variation below 4%. This work offers a technically and economically viable solution for domestic NTD-Si production, restoring Russia’s competitive edge in power electronics and expanding the IRT-T reactor’s capabilities for solid-state physics applications 
336 |a Текстовый файл 
463 1 |t Взаимодействие излучений с твердым телом (ВИТТ-2025)  |l Interaction of Radiation with Solids (IRS-2025)  |o материалы 16-ой Международной конференции, 22-25 сентября 2025 г., Минск, Беларусь  |f Белорусский государственный университет  |c Минск  |n БГУ  |d 2025  |v С. 486-488  |u https://vitt.bsu.by/publication_4.html  |x 2663-9939 
610 1 |a НТЛ-кремний 
610 1 |a бассейновые реакторы 
610 1 |a графитовые замедлители 
610 1 |a гафниевые фильтры 
610 1 |a нейтронное поле 
610 1 |a легирование 
610 1 |a ИРТ-Т 
610 1 |a силовая электроника 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
701 1 |a Лебедев  |b И. И.  |c специалист в области энергетики  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1990-  |g Иван Игоревич  |9 16448 
701 1 |a Варлачев (Варлачёв)  |b В. А.  |c физик, специалист в области ядерных технологий  |c профессор-консультант Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1948-  |g Валерий Александрович  |y Томск  |9 13093 
701 1 |a Смольников  |b Н. В.  |c специалист в области ядерных технологий  |c инженер-физик Томского политехнического университета  |f 1998-  |g Никита Викторович  |9 21494 
701 1 |a Наймушин  |b А. Г.  |c специалист в области ядерных технологий  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1986-  |g Артем Георгиевич  |9 12163 
701 1 |a Аникин  |b М. Н.  |c специалист в области ядерных технологий  |c начальник службы Томского политехнического университета, кандидат технических наук  |f 1991-  |g Михаил Николаевич  |9 16449 
701 1 |a Овсенёв  |b А. Е.  |c специалист в области ядерных технологий  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1993-  |g Александр Евгеньевич  |9 21867 
801 0 |a RU  |b 63413507  |c 20251225  |g RCR 
850 |a 63413507 
856 4 |u https://vitt.bsu.by/publication_4.files/486.pdf  |z https://vitt.bsu.by/publication_4.files/486.pdf 
942 |c CF